BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:5cpf@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260209T070000Z
DTEND:20260209T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:4qgo@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260209T090000Z
DTEND:20260209T104000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:82mr@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260209T110000Z
DTEND:20260209T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:mr36@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260209T130000Z
DTEND:20260209T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:o1b4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260210T090000Z
DTEND:20260210T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:e4ya@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260210T110000Z
DTEND:20260210T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zvvy@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260210T130000Z
DTEND:20260210T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:43wq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260211T110000Z
DTEND:20260211T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:lnl5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260211T130000Z
DTEND:20260211T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:tq5w@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260212T070000Z
DTEND:20260212T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pxru@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260212T090000Z
DTEND:20260212T104000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:qgfw@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260212T110000Z
DTEND:20260212T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:wy71@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260213T090000Z
DTEND:20260213T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:w9af@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260213T110000Z
DTEND:20260213T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 69
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:mm9i@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T051202Z
DTSTART:20260213T130000Z
DTEND:20260213T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR