BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:b88j@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260316T070000Z
DTEND:20260316T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:lzxl@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260316T090000Z
DTEND:20260316T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:v7lg@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260316T110000Z
DTEND:20260316T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:3scb@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260316T130000Z
DTEND:20260316T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:gbl0@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260317T090000Z
DTEND:20260317T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:fyyj@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260317T110000Z
DTEND:20260317T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:nftv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260317T130000Z
DTEND:20260317T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:jckg@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260318T110000Z
DTEND:20260318T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:h0x1@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260318T130000Z
DTEND:20260318T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:qju9@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260319T070000Z
DTEND:20260319T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:sxx6@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260319T090000Z
DTEND:20260319T104000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:liyd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260319T110000Z
DTEND:20260319T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:hsu1@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260320T110000Z
DTEND:20260320T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:gbyg@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T231751Z
DTSTART:20260320T130000Z
DTEND:20260320T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR