BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:vday@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260302T070000Z
DTEND:20260302T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pmx6@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260302T090000Z
DTEND:20260302T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:y9zl@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260302T110000Z
DTEND:20260302T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:t1th@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260302T130000Z
DTEND:20260302T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:l3l7@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260303T090000Z
DTEND:20260303T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ukiv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260303T110000Z
DTEND:20260303T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zmkf@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260303T130000Z
DTEND:20260303T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:mwyh@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260304T110000Z
DTEND:20260304T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:owiy@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260304T130000Z
DTEND:20260304T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:nn97@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260305T070000Z
DTEND:20260305T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:fzze@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260305T090000Z
DTEND:20260305T104000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7fuv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260305T110000Z
DTEND:20260305T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:iido@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260306T110000Z
DTEND:20260306T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:l256@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260606T005159Z
DTSTART:20260306T130000Z
DTEND:20260306T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR