BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:6g17@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260323T070000Z
DTEND:20260323T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:iv1g@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260323T090000Z
DTEND:20260323T104000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0vtd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260323T110000Z
DTEND:20260323T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:htc2@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260323T130000Z
DTEND:20260323T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9in0@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260324T090000Z
DTEND:20260324T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:1fwn@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260324T110000Z
DTEND:20260324T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pgxw@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260324T130000Z
DTEND:20260324T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:8it7@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260325T110000Z
DTEND:20260325T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:vc75@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260325T130000Z
DTEND:20260325T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ysys@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260326T070000Z
DTEND:20260326T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:8r61@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260326T090000Z
DTEND:20260326T104000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:vvcr@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260326T110000Z
DTEND:20260326T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:5cz4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260327T090000Z
DTEND:20260327T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0cyd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260327T110000Z
DTEND:20260327T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 69
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:o5t3@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T211200Z
DTSTART:20260327T130000Z
DTEND:20260327T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR