BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:7p0i@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260420T070000Z
DTEND:20260420T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0t9q@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260420T090000Z
DTEND:20260420T104000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pvp5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260420T110000Z
DTEND:20260420T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ih7h@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260420T130000Z
DTEND:20260420T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9z93@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260421T090000Z
DTEND:20260421T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:99dd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260421T110000Z
DTEND:20260421T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7lf9@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260421T130000Z
DTEND:20260421T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:391a@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260422T110000Z
DTEND:20260422T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:4zcr@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260422T130000Z
DTEND:20260422T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:oflc@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260423T070000Z
DTEND:20260423T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ueqy@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260423T090000Z
DTEND:20260423T104000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:lk5i@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260423T110000Z
DTEND:20260423T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ii9f@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260424T090000Z
DTEND:20260424T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0rq5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260424T110000Z
DTEND:20260424T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 69
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:1yhj@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161152Z
DTSTART:20260424T130000Z
DTEND:20260424T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR