BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:4g9m@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260427T070000Z
DTEND:20260427T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ovtk@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260427T090000Z
DTEND:20260427T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:h540@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260427T110000Z
DTEND:20260427T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:645a@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260427T130000Z
DTEND:20260427T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zzvi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260428T090000Z
DTEND:20260428T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:3fvt@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260428T110000Z
DTEND:20260428T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:txiq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260428T130000Z
DTEND:20260428T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:av9o@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260429T110000Z
DTEND:20260429T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:rf7g@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260429T130000Z
DTEND:20260429T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:8zmp@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260430T070000Z
DTEND:20260430T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:5xii@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260430T090000Z
DTEND:20260430T104000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:92ip@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T161408Z
DTSTART:20260430T110000Z
DTEND:20260430T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
END:VCALENDAR