BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:mzwu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260511T070000Z
DTEND:20260511T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:5hbu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260511T110000Z
DTEND:20260511T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:a65m@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260511T130000Z
DTEND:20260511T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:gs1h@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260512T090000Z
DTEND:20260512T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:r4ci@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260512T110000Z
DTEND:20260512T124000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:xxbi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260512T130000Z
DTEND:20260512T144000Z
SUMMARY:Тепловые свойства материалов и явления переноса
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:3bot@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260513T110000Z
DTEND:20260513T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pdb3@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260513T130000Z
DTEND:20260513T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:85lx@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260514T070000Z
DTEND:20260514T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:w6x9@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260514T110000Z
DTEND:20260514T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9822@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260515T110000Z
DTEND:20260515T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zax4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110422Z
DTSTART:20260515T130000Z
DTEND:20260515T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR