BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:ssxu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260518T070000Z
DTEND:20260518T084000Z
SUMMARY:Семинар по методам анализа поверхности (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:bthy@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260518T090000Z
DTEND:20260518T104000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ean3@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260518T110000Z
DTEND:20260518T124000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7bq2@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260518T130000Z
DTEND:20260518T135000Z
SUMMARY:Типы и конструкции микроэлектромеханических систем
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:85xl@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260519T090000Z
DTEND:20260519T104000Z
SUMMARY:Основы вакуумной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7ri3@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260520T110000Z
DTEND:20260520T124000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:oi8t@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260520T130000Z
DTEND:20260520T144000Z
SUMMARY:Основы плазменных технологий
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:88c6@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260521T070000Z
DTEND:20260521T084000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:d5cq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260521T090000Z
DTEND:20260521T104000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zoz4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260521T110000Z
DTEND:20260521T140000Z
SUMMARY:Методы элементного анализа веществ
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:inhn@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260522T090000Z
DTEND:20260522T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:qnic@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260605T110310Z
DTSTART:20260522T130000Z
DTEND:20260522T144000Z
SUMMARY:Методы измерения свойств материалов микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
END:VCALENDAR