BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/20101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/20101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:1jnz@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251014T070000Z
DTEND:20251014T084000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:m677@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251014T090000Z
DTEND:20251014T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:6g5d@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251014T110000Z
DTEND:20251014T124000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:a9a5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251014T130000Z
DTEND:20251014T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:izya@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251014T150000Z
DTEND:20251014T164000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:hbn9@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251016T070000Z
DTEND:20251016T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:4wgt@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251016T090000Z
DTEND:20251016T104000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:2uxb@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251016T110000Z
DTEND:20251016T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:1cby@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251016T130000Z
DTEND:20251016T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:gu29@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251016T150000Z
DTEND:20251016T164000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:4i0k@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251017T070000Z
DTEND:20251017T084000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:96zj@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251017T090000Z
DTEND:20251017T104000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pjqy@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251017T110000Z
DTEND:20251017T124000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:w14n@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251017T130000Z
DTEND:20251017T144000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:p1et@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T140509Z
DTSTART:20251017T150000Z
DTEND:20251017T164000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
END:VCALENDAR