BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/20101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/20101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:17lt@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251028T070000Z
DTEND:20251028T084000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0rxq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251028T090000Z
DTEND:20251028T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:pifm@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251028T110000Z
DTEND:20251028T124000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:f75c@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251028T130000Z
DTEND:20251028T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:p1y4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251028T150000Z
DTEND:20251028T164000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zt9h@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251030T070000Z
DTEND:20251030T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:4565@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251030T090000Z
DTEND:20251030T104000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:g1mf@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251030T110000Z
DTEND:20251030T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:74m4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251030T130000Z
DTEND:20251030T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:54sd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251030T150000Z
DTEND:20251030T164000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:dvc2@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251031T070000Z
DTEND:20251031T084000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:cb9l@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251031T090000Z
DTEND:20251031T104000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:xzj5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251031T110000Z
DTEND:20251031T124000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7ew4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251031T130000Z
DTEND:20251031T144000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9pus@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T114637Z
DTSTART:20251031T150000Z
DTEND:20251031T164000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
END:VCALENDAR