BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/20101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/20101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:jx9v@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251111T070000Z
DTEND:20251111T084000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ds6c@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251111T090000Z
DTEND:20251111T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ueu1@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251111T110000Z
DTEND:20251111T124000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:mqny@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251111T130000Z
DTEND:20251111T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zh2h@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251111T150000Z
DTEND:20251111T164000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:29hh@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251113T070000Z
DTEND:20251113T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:11mi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251113T090000Z
DTEND:20251113T104000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:c9at@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251113T110000Z
DTEND:20251113T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:yn82@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251113T130000Z
DTEND:20251113T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:8ihu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251113T150000Z
DTEND:20251113T164000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:hala@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251114T070000Z
DTEND:20251114T084000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9zd8@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251114T090000Z
DTEND:20251114T104000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:x5mb@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251114T110000Z
DTEND:20251114T124000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:bsbg@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251114T130000Z
DTEND:20251114T144000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:p8z8@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T092156Z
DTSTART:20251114T150000Z
DTEND:20251114T164000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
END:VCALENDAR