BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/20101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/20101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:od5l@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251125T070000Z
DTEND:20251125T084000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:elc5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251125T090000Z
DTEND:20251125T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:573c@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251125T110000Z
DTEND:20251125T124000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:sbiv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251125T130000Z
DTEND:20251125T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:sxxd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251125T150000Z
DTEND:20251125T164000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:w222@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251127T070000Z
DTEND:20251127T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:tr6z@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251127T090000Z
DTEND:20251127T104000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ku14@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251127T110000Z
DTEND:20251127T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:6ksv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251127T130000Z
DTEND:20251127T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:sqfp@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251127T150000Z
DTEND:20251127T164000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:1q06@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251128T070000Z
DTEND:20251128T084000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:c2lh@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251128T090000Z
DTEND:20251128T104000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:g2g4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251128T110000Z
DTEND:20251128T124000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ovrq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251128T130000Z
DTEND:20251128T144000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0b02@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260607T070732Z
DTSTART:20251128T150000Z
DTEND:20251128T164000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
END:VCALENDAR