BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/20101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/20101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:dizv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250902T070000Z
DTEND:20250902T084000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:i2ll@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250902T090000Z
DTEND:20250902T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:4pe4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250902T110000Z
DTEND:20250902T124000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9l3j@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250902T130000Z
DTEND:20250902T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:igex@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250902T150000Z
DTEND:20250902T164000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zxgu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250904T070000Z
DTEND:20250904T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:6aco@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250904T090000Z
DTEND:20250904T104000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:p24x@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250904T110000Z
DTEND:20250904T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ppdt@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250904T130000Z
DTEND:20250904T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:h6rg@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250904T150000Z
DTEND:20250904T164000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:bgwz@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250905T070000Z
DTEND:20250905T084000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:z3td@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250905T090000Z
DTEND:20250905T104000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:5w0g@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250905T110000Z
DTEND:20250905T124000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:jizi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250905T130000Z
DTEND:20250905T144000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:obzr@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260608T065619Z
DTSTART:20250905T150000Z
DTEND:20250905T164000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
END:VCALENDAR