BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/40101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/40101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:ljyb@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261214T070000Z
DTEND:20261214T084000Z
SUMMARY:Спектроскопические и микроскопические методы исследования наномате
 риалов и наносистем (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:i2b1@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261214T110000Z
DTEND:20261214T124000Z
SUMMARY:Физические основы микро- и наносистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0dmh@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261214T130000Z
DTEND:20261214T144000Z
SUMMARY:Технологии материалов и компонентов микроэлектроники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:yy1x@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261214T150000Z
DTEND:20261214T164000Z
SUMMARY:Технологии материалов и компонентов микроэлектроники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:xu64@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261215T090000Z
DTEND:20261215T104000Z
SUMMARY:Методы исследования строения веществ
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:tioh@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261215T110000Z
DTEND:20261215T124000Z
SUMMARY:Физическая химия наноструктурированных материалов
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:f3l7@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261216T070000Z
DTEND:20261216T084000Z
SUMMARY:Прикладная микромеханика
LOCATION:ГЗ 346-4ВИРД
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:je4x@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261216T090000Z
DTEND:20261216T104000Z
SUMMARY:Прикладная микромеханика
LOCATION:ГЗ 346-4ВИРД
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:foaj@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261216T110000Z
DTEND:20261216T124000Z
SUMMARY:Физико-химические основы технологических процессов в микросистемно
 й технике
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:dzx5@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261216T130000Z
DTEND:20261216T144000Z
SUMMARY:Рентгеновские методы
LOCATION:Хим. к. 32
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:3zmi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261216T130000Z
DTEND:20261216T144000Z
SUMMARY:Физическая электроника и электронные приборы
LOCATION:Хим. к. 34
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:xdpk@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261216T150000Z
DTEND:20261216T164000Z
SUMMARY:Спектроскопические и микроскопические методы исследования наномате
 риалов и наносистем (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:bin8@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261217T090000Z
DTEND:20261217T094500Z
SUMMARY:Спектроскопические и микроскопические методы исследования наномате
 риалов и наносистем (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:cwap@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261217T100000Z
DTEND:20261217T130000Z
SUMMARY:Спектроскопические и микроскопические методы исследования наномате
 риалов и наносистем (на английском языке)
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:bd1s@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261217T130000Z
DTEND:20261217T140000Z
SUMMARY:Физическая электроника и электронные приборы
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:aj12@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261218T090000Z
DTEND:20261218T120000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:0xng@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261115T072747Z
DTSTART:20261218T120000Z
DTEND:20261218T150000Z
SUMMARY:Образовательный форсайт
LOCATION:Хим. к. 56
END:VEVENT
END:VCALENDAR