BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:qias@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261014T070000Z
DTEND:20261014T084000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7472@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261014T090000Z
DTEND:20261014T104000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:d9cn@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261014T110000Z
DTEND:20261014T124000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 55
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:azmn@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261014T130000Z
DTEND:20261014T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:93hi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261015T060000Z
DTEND:20261015T065000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:eoxi@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261015T070000Z
DTEND:20261015T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:hr7d@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261015T090000Z
DTEND:20261015T104000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:jc6n@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261015T110000Z
DTEND:20261015T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:uoql@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261015T130000Z
DTEND:20261015T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:d5nk@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261016T070000Z
DTEND:20261016T084000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:cipn@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261016T090000Z
DTEND:20261016T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ry49@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261016T110000Z
DTEND:20261016T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:tg9r@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T174959Z
DTSTART:20261016T130000Z
DTEND:20261016T144000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
END:VCALENDAR