BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:qz4x@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261021T070000Z
DTEND:20261021T084000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:hf3u@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261021T090000Z
DTEND:20261021T104000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zps2@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261021T110000Z
DTEND:20261021T124000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 55
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zdy4@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261021T130000Z
DTEND:20261021T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:3xil@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261022T060000Z
DTEND:20261022T065000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:jcov@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261022T070000Z
DTEND:20261022T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zt8g@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261022T090000Z
DTEND:20261022T104000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ih8g@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261022T110000Z
DTEND:20261022T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:msad@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261022T130000Z
DTEND:20261022T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:r8gm@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261023T070000Z
DTEND:20261023T084000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:zflc@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261023T090000Z
DTEND:20261023T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:gq9i@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261023T110000Z
DTEND:20261023T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:urwl@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261002T175558Z
DTSTART:20261023T130000Z
DTEND:20261023T144000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
END:VCALENDAR