BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:x8j0@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261007T070000Z
DTEND:20261007T084000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:cknr@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261007T090000Z
DTEND:20261007T104000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:j9vq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261007T110000Z
DTEND:20261007T124000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 55
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:gvgp@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261007T130000Z
DTEND:20261007T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:269j@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261008T060000Z
DTEND:20261008T065000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:fpxu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261008T070000Z
DTEND:20261008T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:eblu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261008T090000Z
DTEND:20261008T104000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:w9b2@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261008T110000Z
DTEND:20261008T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:rgn0@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261008T130000Z
DTEND:20261008T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:hnxy@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261009T070000Z
DTEND:20261009T084000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:moo8@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261009T090000Z
DTEND:20261009T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:q46q@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261009T110000Z
DTEND:20261009T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:aqcx@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T130238Z
DTSTART:20261009T130000Z
DTEND:20261009T144000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
END:VCALENDAR