BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:8f6x@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260902T070000Z
DTEND:20260902T084000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 63
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:wahb@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260902T090000Z
DTEND:20260902T104000Z
SUMMARY:Нанотехнологии в микроэлектронике
LOCATION:Хим. к. 63
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:g2r9@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260902T110000Z
DTEND:20260902T124000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 55
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:b4fd@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260902T130000Z
DTEND:20260902T144000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 44
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:qzue@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260903T060000Z
DTEND:20260903T065000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:lssz@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260903T070000Z
DTEND:20260903T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:c0fu@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260903T090000Z
DTEND:20260903T104000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:7k74@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260903T110000Z
DTEND:20260903T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:tom0@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260903T130000Z
DTEND:20260903T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:v2jt@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260904T070000Z
DTEND:20260904T084000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:2brq@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260904T090000Z
DTEND:20260904T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:c6oe@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20260818T143946Z
DTSTART:20260904T110000Z
DTEND:20260904T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
END:VCALENDAR