BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//spbstu.ru//ical//RU
NAME:Расписание группы 3332801/30101
X-WR-CALNAME:Расписание группы 3332801/30101
TIMEZONE-ID:Europe/Moscow
X-WR-TIMEZONE:Europe/Moscow
BEGIN:VEVENT
UID:kdj1@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20260930T070000Z
DTEND:20260930T084000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:eyj9@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20260930T090000Z
DTEND:20260930T104000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:37ap@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20260930T110000Z
DTEND:20260930T124000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 55
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:npyv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20260930T130000Z
DTEND:20260930T144000Z
SUMMARY:Оборудование и подготовка производства изделий микросистемной техн
 ики
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:h3w1@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261001T060000Z
DTEND:20261001T065000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:vgfk@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261001T070000Z
DTEND:20261001T084000Z
SUMMARY:Метрология\, стандартизация и сертификация
LOCATION:Хим. к. 28
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:p99s@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261001T090000Z
DTEND:20261001T104000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:aa27@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261001T110000Z
DTEND:20261001T124000Z
SUMMARY:Зондовые методы исследования наноматериалов и наноструктур
LOCATION:Хим. к. 64
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:tqzf@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261001T130000Z
DTEND:20261001T144000Z
SUMMARY:Оптические методы исследования и контроля материалов и изделий мик
 росистемной техники
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:ccix@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261002T070000Z
DTEND:20261002T084000Z
SUMMARY:Электрохимические технологии в производстве изделий микросистемной
  техники
LOCATION:Хим. к. 3
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:msbr@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261002T090000Z
DTEND:20261002T104000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:9lmf@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261002T110000Z
DTEND:20261002T124000Z
SUMMARY:Производство изделий микросистемной техники
LOCATION:ЛабК 65
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
UID:6iiv@192.168.245.71:3006
SEQUENCE:0
DTSTAMP:20261001T104154Z
DTSTART:20261002T130000Z
DTEND:20261002T144000Z
SUMMARY:Оборудование и технологии формирования тонких плёнок в микроэлектр
 онике
LOCATION:Хим. к. 48
END:VEVENT
END:VCALENDAR